01 Metrologia Wielkości Geometrycznych - podstawy, wielkości i jednostki miary, układy jednostek miar, SI.pdf

(672 KB) Pobierz
2013-01-04
Dane kontaktowe
Pracownia Metrologii i Badań Jakości
Podstawy metrologii
dr inż Marek KURAN
dr inż. Marek KURAN
pok. 29 bud. B-9
tel. 071 320 27 28
marek.kuran@pwr.wroc.pl
www.metrologia.pwr.wroc.pl
Informacje wstępne
2
Warunki zaliczenia wykładu
Zagadnienia – Podstawy Metrologii
• Podstawowe pojęcia metrologiczne
• Jednostki miar i ich powiązanie (układ SI)
•Wzorce jednostek miar
Bł d i td i ó
• Błędy i metody pomiarów
•Niepewność pomiarowa i jej wyznaczenie
•Sygnały i ich przetwarzanie
•Przyrządy pomiarowe i ich właściwości
• Opracowanie wyników pomiarów
• Zasady prowadzenia eksperymentów
•Obecność na wykładzie nie jest obowiązkowa
•Podstawą zaliczenia kursu jest kolokwium na
ostatnim wykładzie
Forma kolokwium test z wyboru”
• Forma kolokwium – test „z wyboru”
•Każdemu przysługują dwa terminy zaliczenia
• Osoby niezadowolone z rezultatu testu mogą
poprawić swój wynik na kolejnym terminie
3
4
Literatura – Podstawy Metrologii
Literatura – Podstawy Metrologii cd.
Jaworski J .: Matematyczne podstawy metrologii . WNT
Warszawa 1979.
Bielski A., Ciuryło R. : Podstawy metod opracowania
pomiarów . UMK Toruń 1998.
Gajda J., Szyper M. : Modelowanie i badania
symulacyjne systemów pomiarowych . AGH i Jartek S.C.
K kó 1998
Kraków 1998.
Gundlach W., Ciepłucha J., Kozanecka D. : Podstawy
metrologii, część I - III . Wyd. 2 . Politechnika Łódzka
1989.
Zakrzewski J. : Podstawy metrologii dla kierunku
mechanicznego . Skrypt nr 1670, Politechnika Śląska,
Gliwice 1991.
Urban A. : Podstawy miernictwa . Skrypt Politechniki
Warszawskiej. Warszawa 1992
Szydłowski H. i inni : Teoria pomiarów . PWN Warszawa
1981.
Piotrowski J .: Teoria pomiarów . PWN Warszawa 1986.
Piotrowski J. : Pomiarowe zastosowanie analizy
sygnałów . PWN Warszawa 1991.
Abramowicz H.: Jak analizować wyniki pomiarów? PWN
Warszawa 1992.
5
6
1
953338388.051.png 953338388.061.png 953338388.072.png 953338388.082.png 953338388.001.png 953338388.004.png 953338388.005.png 953338388.006.png 953338388.007.png 953338388.008.png 953338388.009.png 953338388.010.png 953338388.011.png 953338388.012.png 953338388.013.png 953338388.014.png
2013-01-04
Zagadnienia – Metrologia Wielkości Geometrycznych
Literatura – Metrologia Wielkości Geometrycznych
•Wielkości i jednostki miar. Układ SI.
• Rodzaje wymiarów. Tolerancje i pasowania.
•Błędy kształtu i położenia. Geometryczne specyfikacje
wyrobu (GPS).
wyrobu (GPS).
•Wymiary kątowe i stożki. Tolerowanie.
• Gwinty. Tolerowanie.
•Koła zębate. Tolerowanie.
• Chropowatość i falistość powierzchni.
•Pomiary współrzędnościowe.
•Właściwości metrologiczne sprzętu pomiarowego.
Jakubiec W., Malinowski J. : Metrologia wielkości
geometrycznych . WNT Warszawa 2004
Jakubiec W., Malinowski J., Płowucha W. : Pomiary
Jakubiec W., Malinowski J., Płowucha W. : Pomiary
gwintów w budowie maszyn. WNT Warszawa 2008
Barzykowski J. : Współczesna metrologia – zagadnienia
wybrane. WNT Warszawa 2007
Humienny Z. i inni: Specyfikacje geometrii wyrobów
(GPS). WNT Warszawa 2004
7
8
Literatura – Metrologia Wielkości Geometrycznych cd.
Kula W. : Miary i ludzie . Książka i Wiedza Warszawa 2004
Adamczak S., Makieła W. : Metrologia w budowie
maszyn. Zadania z rozwiązaniami - wydanie drugie
ii 200
zmienione. WNT Warszawa 2007
Podstawy metrologii
Jezierski J. : Analiza tolerancji i niedokładności
pomiarów w budowie maszyn. WNT Warszawa 2003
Białas S. : Metrologia techniczna z podstawami
tolerowania wielkości geometrycznych dla mechaników.
Oficyna Wydawnicza PW Warszawa 1997
Historia. Wielkości i jednostki miar. Układ SI.
Rozwój współczesnej metrologii
9
Metrologia – geneza nazwy
Metrologia - definicja
Metrologia, to dziedzina nauki i techniki zajmująca
się pomiarami i wszystkimi czynnościami
niezbędnymi do wykonywania pomiarów
Mała encyklopedia metrologii
11
12
2
953338388.015.png 953338388.016.png
 
953338388.017.png 953338388.018.png 953338388.019.png 953338388.020.png 953338388.021.png 953338388.022.png 953338388.023.png 953338388.024.png 953338388.025.png 953338388.026.png 953338388.027.png 953338388.028.png 953338388.029.png 953338388.030.png 953338388.031.png 953338388.032.png 953338388.033.png 953338388.034.png
2013-01-04
Metrologia - podział
Metrologia - podział
Metrologia przemysłowa
Metrologia przemysłowa
Zajmuje się wszystkimi usługami metrologicznymi,
które są związane z procesami produkcyjnymi
wprzemyśle
13
14
Metrologia - podział
Metrologia - podział
Metrologia prawna
Metrologia laboratoryjna
jest działem metrologii odnoszącym się do
jednostek miar, metod pomiarowych i narzędzi
pomiarowych z punktu widzenia urzędowo
ustalonych wymagań technicznych i prawnych
mających na celu zapewnienie jednolitości miar,
poprawności
zajmuje się pomiarami w laboratoriach
badawczych i wzorcujących, w których wykonuje
się wzorcownie przyrządów pomiarowych i badania
typu (pełne) przyrządów pomiarowych.
uzyskiwanych
wyników
pomiarów
i
należytej dokładności pomiarów.
15
16
Metrologia – trochę historii
Metrologia - rozwój
Odkrycia XVIII i XIX w. - wprowadzenie metrologii w
okres nowoczesności i dynamicznego rozwoju.
• w
• Metrologia – udokumentowana historia, sięgająca
10 tys. lat.
1718
r.
gdańszczanin
Fahrenheit
skonstruował
termometr rtęciowy.
• w 1820 r. Örsted zbudował galwanometr,
w 1820 r. Örsted zbudował galwanometr,
zapoczątkowując roz ój elektro echanicznych
przyrządów pomiarowych oraz metod i technik pomiarów
wielkości elektrycznych.
• kolejne wynalazki: termoogniwo (1855 r.),
termorezystor (1875 r.), tensometr elektryczny (lata 20
XX w.), umożliwiły przetwarzanie rożnych wielkości
nieelektrycznych na sygnały elektryczne,
zapoczątkowując nowy kierunek metrologii - miernictwo
elektryczne wielkości nieelektrycznych.
• Historycznie najstarsze pomiary wielkości z życia
codziennego: długość, odległość, powierzchnia,
objętość płynów i ciał sypkich, masa, czas.
• Pierwsze wzorce miar i przyrządy pomiarowe:
przedmioty z najbliższego otoczenia człowieka,
elementy ludzkiego ciała
17
18
3
953338388.035.png 953338388.036.png
 
953338388.037.png 953338388.038.png 953338388.039.png 953338388.040.png 953338388.041.png 953338388.042.png 953338388.043.png 953338388.044.png 953338388.045.png 953338388.046.png 953338388.047.png 953338388.048.png 953338388.049.png 953338388.050.png 953338388.052.png 953338388.053.png 953338388.054.png 953338388.055.png
2013-01-04
Metrologia - rozwój
Metrologia - rozwój
1974 r., pojawienie się na rynku mikroprocesor Intel
8080 – wejście metrologii w etap skomputeryzowanej
techniki
Postępy elektroniki i rozwój techniki cyfrowej -
wprowadzenie metrologii w etap cyfrowej techniki
pomiarowej, zapoczątkowanywkońcu lat 50. Cechą
charakterystyczną tego etapu jest:
•kwantyzacja sygnału omi ow o a om ą
przetwornika analogowo-cyfrowego,
• zobrazowanie wyniku pomiaru na cyfrowym polu
odczytowym (co skróciło czas pomiaru do milisekund, a
wrozwiązaniach szybkich do mikrosekund),
•wyeliminowałobłędy subiektywne pomiarów,
•umożliwienie
pomiarowej.
Cechą charakterystyczną tego
etapu jest:
• sprzężenie procesów pomiarowych i obliczeniowych
• sprzężenie procesów pomiarowych i obliczeniowych,
• ulepszenie parametrów metrologicznych znanych dotąd
przyrządów, np. korektę nieliniowości, polepszenie
dokładności przez wielokrotne powtarzanie pomiarów i ich
uśrednienie oraz inne rodzaje cyfrowej obróbki sygnałów,
• organizacja komputerowo wspomaganych systemów
pomiarowych (system pomiarowy jest zbiorem
przetworników i przyrządów pomiarowych objętych
wspólnym sterowaniem, tworzących całość organizacyjną) .
automatyzacji
pomiarów
i łatwej
rejestracji wyników.
19
20
Metrologia – rozwój cd.
Metrologia – rozwój cd.
• Szczególnie szerokie zastosowanie znalazły systemy o
architekturze magistralowej, w której przyrządy
pomiarowe i inne jednostki funkcjonalne, w tym
komputer sterujący, są podłączone do wspólnej
wieloprzewodowej magistrali interfejsowej którą
wieloprzewodowej magistrali interfejsowej, którą
przesyła się sygnały informacyjne (dane) i rozkazy
sterujące.
• Opracowano standardy takich interfejsów, np. IEC-625,
VME, VXI.
• Aparatura pomiarowa obecnie produkowana posiada
karty sprzęgu ze standardowymi magistralami interfejsu,
co umożliwia jej prace w systemach, niezależnie od
pracy autonomicznej.
• Obok systemów organizowanych z konwencjonalnej
aparatury, upowszechniają się systemy organizowane z
przyrządów wykonanych na jednej płycie montażowej
nazywanej karta pomiarowa.
Systemy takie są bardzo elastyczne i przez odpowiedni
• Systemy takie są bardzo elastyczne i przez odpowiedni
dobór kart można je łatwo przystosować do różnych
zadań pomiarowych,
• Na bazie takich kart projektować można tak zwane
wirtualne przyrządy pomiarowe.
•Postępy elektroniki w ostatnich kilku latach wprowadzają
metrologie w etap mikrosystemów pomiarowych.
21
22
Obserwacja a pomiar
Obserwacja
•Najczęściej informacje o świecie
zewnętrznym człowiek otrzymuje za
pośrednictwem obserwacji i wywoływanymi
ii ż ń
nimi wrażeń.
•Zjawiskom będącym przedmiotem obserwacji
towarzyszą zmiany energetyczne (jako
przyczyny lub skutki, które wywołują
odpowiednie pole zjawiskowe dostępne
zmysłom obserwatora).
• Obserwacje, za pomocą których buduje się
obraz świata, są jakościowe, subiektywne i
niepełne.
• Obserwacje dostarczają tylko pośrednio
informacji o rzeczach i istotach, a
bezpośrednio tylko o zjawiskach przez nie
wywoływanych.
• Podstawową wadą obserwacji jest jej
charakter jakościowy
23
24
4
953338388.056.png 953338388.057.png
 
953338388.058.png 953338388.059.png 953338388.060.png 953338388.062.png 953338388.063.png 953338388.064.png 953338388.065.png 953338388.066.png 953338388.067.png 953338388.068.png 953338388.069.png 953338388.070.png 953338388.071.png 953338388.073.png 953338388.074.png 953338388.075.png
2013-01-04
Pomiar
Kontrola
•Pomiary są ilościową oceną zjawisk
zachodzących w otoczeniu człowieka.
• Do jego realizacji konieczne jest utworzenie
ó t h j ik lb t h
wzorców tych zjawisk (lub wytwarzanych przez
nie efektów).
• Wzorce te powinny być powtarzalne, niezależne
od obserwatora.
• Pomiar polega na porównaniu mierzonej wartości
ze znaną wartością tej wielkości
przyjmowaną za jednostkę miary.
•Jeżeli pomiar odpowiada na pytanie „ile”
„ile”, to
kontrola odpowiada na pytanie „tak czy nie”
„tak czy nie”,
tj. czy dany parametr mieści się w
k śl h i h i kt j t
określonych granicach, czy obiekt jest
sprawny, czy niesprawny.
•Każdy pomiar może być wykorzystywany do
kontroli, ale nie każda operacja kontrolna
może być uważana za pomiar, np. wrażenie
smakowe, zapachowe, estetyczne itp.
25
26
Diagnostyka
Metrologia – podstawowe pojęcia
POMIAR
•Diagnostyka jest pojęciem szerszym niż pomiar
Ilościowe wyznaczenie na drodze eksperymentu
jakiejś cechy zjawiska, ciała lub procesu
•Diagnostyka obejmuje wiele czynności
kontrolnych, a także ustalenie źródła lub przyczyny
stwierdzonego stanu badanego obiektu
27
28
Metrologia – podstawowe pojęcia
Metrologia – podstawowe pojęcia
CECHA
(wyznaczana)
(y
Opis cechy za pomocą
)
WARTOŚCI WIELKOŚCI
=
WIELKOŚĆ
(mierzona)
— iloczynu jednostki miary i liczby
29
30
5
953338388.076.png 953338388.077.png
 
953338388.078.png 953338388.079.png 953338388.080.png 953338388.081.png 953338388.083.png 953338388.084.png 953338388.085.png 953338388.086.png 953338388.087.png 953338388.088.png 953338388.089.png 953338388.090.png 953338388.091.png 953338388.092.png 953338388.002.png 953338388.003.png
Zgłoś jeśli naruszono regulamin